Лабораторные
Решения

Электроника

Категория: Отраслевые решения

Анализ упорядоченности и совершенства эпитаксиальных пленок и многослойных образцов. Анализ образцов при перемещении его по кривым качания. Построение карт в обратном пространстве.

Решения для отрасли производства полупроводников:

  • Анализ упорядоченных пленок и слоев в высоком и очень высоком разрешении
  • Анализ упорядоченности и совершенства эпитаксиальных пленок и многослойных образцов
  • Анализ образцов при перемещении его по кривым качания
  • Построение карт в обратном пространстве


Методы исследования

  • рентгеновская дифракция в высоком разрешении на дифрактометре PANalytical Empyrean
  • рентгеновская дифракция в очень высоком разрешении на дифрактометре X’Pert PRO MRD
  • анализ пластин диаметром до 300 мм на дифрактометре X’Pert PRO MRD XL.

Заказать обратный звонок / задать вопрос