Микроскопы

Компания Metkon Instruments Inc. представляет линейку микроскопов для исследований в сферах металлографии и геологии. Список оборудования включает в себя инвертированные, прямые, стерео и поляризационные лабораторные микроскопы, а также переносной монокулярный микроскоп для полевых исследований. Их оптическая система позволяет проводить исследования в отраженном и проходящем свете, в светлом и темном поле или поляризационном контрасте, в зависимости от модели. Конструкция выполнена по модульному принципу, что позволяет комплектовать их линзами, окулярами, объективами и фильтрами под конкретные задачи каждого Заказчика.

На базе микроскопов Metkon можно сконфигурировать систему панорамной микроскопии с программным обеспечением SIAMS, которая будет официально зарегистрирована, как средство измерения.

Использование программного комплекса значительно облегчает работу материаловеда при анализе микроструктуры исследуемого образца. С помощью цифровой камеры происходит запись изображений с микроструктурой, а программное обеспечение производит сшивку и панорамирование поверхности исследуемого образца, что позволяет вернуться в любой момент к ранее записанному участку образца и сохранять в памяти компьютера всю панораму сразу.

Программное обеспечение позволяет устанавливать дополнительные модули, направленные на решение конкретных задач в сферах металлографии и петрографии: анализ зерна в твердых сплавах, содержание перлита и феррита в стали, анализ графита в чугуне, анализ толщины слоев и покрытий, анализ пористости и полосчатости, анализ неметаллических включений и т.д.