Лабораторные
Решения

Полезная информация

Информационная страница создана для всех пользователей аналитического исследовательского оборудования для спектрального анализа: студентам, аспирантам, научным сотрудникам, специалистам лабораторий различных производств и т.д.

Рассмотрены теоретические основы методов оптико-эмиссионного, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, метода рентгеновской дифракции и основы металлографии.

Оптическая эмиссионная спектрометрия (или OE-спектрометрия — «Optical Emission Spectrometry»)

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (или XRF-спектрометрия — «X-Ray Fluorescence»)

Рентгеновская дифрактометрия (или XRD — «X-Ray Diffraction»)

Металлография

  • Металлография

    Металлография - один из наиболее объемных и обширных подразделов материалографии, занимающийся выявлением и оценкой внутренней структуры металлов и сплавов, которые в качестве конструкционных материалов являются основной базой современной техники. На сегодняшний день, как и прежде, это одни из самых важных и распространенных методов исследования материалов, необходимый как ...

  • XRD-дифрактометрия

    Рентгеновская дифрактометрия
     
    Теоретические основы метода (РДА, РФА, РСА, общепринятое обозначение - XRD).
    Рентгенострукту́рный ана́лиз (рентгенодифракционный анализ) — один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решетке.

    Явление дифракции ...

  • XRF-спектрометрия

    Рентгено-флуоресцентный спектрометр
    Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (общепринятое обозначение - XRF, РФА, РФС) - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от Бериллия (№4) до Урана (№92) в диапазоне от долей ppm до 100% в веществах и материалах различного происхождения.
    Рентгенофлуоресцентный (рентгеновский) спектрометр или XRF-спектрометр. ...

  • OE-спектрометрия

    Оптическая эмиссионная спектрометрия. Оптический эмиссионный спектрометр.

    Атомная спектроскопия

    Атомно-спектроскопические методы (атомно-спектральный анализ) позволяют получить информацию о качественном и количественном составе исследуемого образца.

    Областью спектроскопических методов для исследования материалов является оптическая атомно-эмиссионная спектроскопия ...

  • Полезная информация

    Информационная страница создана для всех пользователей аналитического исследовательского оборудования для спектрального анализа: студентам, аспирантам, научным сотрудникам, специалистам лабораторий различных производств и т.д.
    Рассмотрены теоретические основы методов оптико-эмиссионного, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, метода рентгеновской дифракции и основы ...

Заказать обратный звонок / задать вопрос