Лабораторные
Решения

Черная и цветная металлургия

Анализ сталей, чугуна, чистых металлов и сплавов. Определение следовых концентраций С, S, Ca, Co, Ti, Pb, Mg и др. элементов в сталях, чугунах и других сплавах. Анализ алюминиевых сплавов и электролитов. Анализ ферросплавов, шлаков, огнеупоров.

Категория: Отраслевые решения


  • Готов к работе после распаковки!
  • Гарантия 2 года и постгарантийное обслуживание!
  • Доставка в любую точку России!

Черная и цветная металлургия

Наша компания предлагает эффективные решения для черной и цветной металлургии:

  • Анализ чугуна, сталей, чистых металлов и сплавов
  • Анализ неметаллических включений
  • Определение содержания следовых концентраций С, S, Ca, Co, Ti, Pb, Mg в сталях и чугунах
  • Анализ ферросплавов, шлаков, добавочных материалов, огнеупоров методом XRF/XRD анализа
  • Анализ алюминиевых сплавов, электролитов методом XRD-анализа с системой анализа общего содержания Са
  • Анализ чистых и сверхчистых материалов Cu, Al, Ni, Ti, Mg, Zn, Pb и их сплавов
  • Оборудование для подготовки проб к анализу от ручных станков до автоматизированных систем
  • Анализ C, S и O, N, H на методом сжигания на анализаторах NCS-Germany

Подробнее

Экспресс-анализ, сертификационный анализ металлов и сплавов на OE-спектрометрах OBLF QSN750-II, OBLF QSG750-II и/или на XRF-спектрометрах PANalytical Zetium (Zetium Metals), Axios FAST.
Количественный безэталонный анализ металлических изделий, сыпучих материалов, жидкостей и др. материалов с неизвестным химическим составом на XRF-спектрометрах PANalytical Zetium, Axios FAST.

Экспресс-анализ металлургических шлаков, ферросплавов, сталей на XRF-спектрометрах PANalytical Axios FAST, Zetium.
Входной контроль ферросплавов, добавочных материалов, огнеупоров и т.д. на XRF-спектрометрах PANalytical Zetium, Axios FAST, Epsilon 3XLE.
Фазовый анализ ферросплавов, огнеупоров, сталей, сплавов, чугунов, анализ текстуры проката,  анализ остаточных напряжений проката и отработанных деталей на дифрактометрах PANalytical Empyrean и X’Pert Powder.
Анализ чистых и сверхчистых металлов на OE-спектрометре OBLF QSG750-II.
Специальная разработка PANalytical для алюминиевой промышленности – CubiX? Potflux – оптимизированный для контроля электролитической ванны с встроенным XRF (флуоресцентым) каналом для измерения общего содержания кальция в жидком алюминии.

Подготовка металлических образцов к спектральному анализу на станках шлифовальных станках Herzog, OBLF, фрезерных станках Herzog, Metkon.
Подготовка сыпучих материалов для рентгеноспектрального анализа на дробилках, мельницах, прессах Herzog, сплавление порошков для получения стеклянных таблеток в печах для сплавления PANalytical, Retsch и Herzog.

Подготовка  образцов к металлографическому анализу на оборудовании Metkon.
Исследование микроструктуры на микроскопах Carl Zeiss, Metkon, Optech.