Главная / Отраслевые решения / Электроника

Электроника

Анализ упорядоченности и совершенства эпитаксиальных пленок и многослойных образцов. Анализ образцов при перемещении его по кривым качания. Построение карт в обратном пространстве.

Категория: Отраслевые решения

Готов к работе после распаковки!
Гарантия 2 года и постгарантийное обслуживание!
Доставка в любую точку России!

Описание

Решения для отрасли производства полупроводников:

Анализ упорядоченных пленок и слоев в высоком и очень высоком разрешении
Анализ упорядоченности и совершенства эпитаксиальных пленок и многослойных образцов
Анализ образцов при перемещении его по кривым качания
Построение карт в обратном пространстве

Методы исследования

рентгеновская дифракция в высоком разрешении на дифрактометре PANalytical Empyrean
рентгеновская дифракция в очень высоком разрешении на дифрактометре X’Pert PRO MRD
анализ пластин диаметром до 300 мм на дифрактометре X’Pert PRO MRD XL.