Полезная информация

Информационная страница создана для всех пользователей аналитического исследовательского оборудования для спектрального анализа: студентам, аспирантам, научным сотрудникам, специалистам лабораторий различных производств и т.д.

Рассмотрены теоретические основы методов оптико-эмиссионного, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, метода рентгеновской дифракции и основы металлографии.

Оптическая эмиссионная спектрометрия (или OE-спектрометрия – “Optical Emission Spectrometry”)

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (или XRF-спектрометрия – “X-Ray Fluorescence”)

Рентгеновская дифрактометрия (или XRD – “X-Ray Diffraction”)

Металлография